Digital Micrograph实例教程(1)：如何测量高分辨电镜图片中的晶面间距？

前言

Digital Micrograph (DM)是美国Gatan公司推出的一款用于透射电镜数据采集和分析的软件，相信做过高分辨透射电镜的朋友都非常熟悉。DM软件的菜单栏和基本使用方法一般大家都没啥问题，这里就不多废话了，咱们直奔主题，分享一些有用的东西。今天的话题是：如何利用DM来测量高分辨电镜图片中的晶面间距？

备注：作为一个尊重知识版权的公众号，研之成理的一贯原则是只提供使用方法，不分享软件，需要软件资源的朋友请自行百度或者在小木虫上搜索。

实例解析

软件：Gatan Digital Micrograph

文件格式：dm3格式（TIFF和JPEG格式的文件不适用于本教程）

Step 1. 打开软件，导入数据(.dm3格式文件)。

图1. 

图2. CeO2纳米棒的HRTEM图片

备注：.dm3是采用Gatan CCD所拍摄的高分辨透射电镜图片的原始格式，也是富含有效信息最多的文件格式，所以大家在测试的时候务必让测试老师将dm3源文件提供给你，而不是转码之后的TIFF或者JPEG格式。

Step 2.  点击工具栏中的Profile工具，在晶格条纹清晰的区域画一条垂直于晶格条纹的线（图3），与此同时，会出现一个Profile窗口

图3

Step 3. 双击所画的直线，设置线条宽度，然后点击OK（图4），得到一个矩形框（图5）

图4

图5

Step 4. 通过工具栏中的选择工具，选中所画的线对其进行调节，使得矩形上下两边平行于晶格条纹（图6）

图6

此时，可以看到Profile of CeO2-0001窗口如图7所示（备注：各个柱形图高度越接近，测出的条纹间距值越可靠）

图7

Step 5. 在Profile窗口中采用鼠标左键拽出一个虚线框（确保框线位于柱子正中间）即可显示出距离（图8），通常测量10个周期的距离求取平均值得到晶格条纹的晶面间距。图8中的晶格间距为3.118 ÷ 10 = 0.3118 nm，对应CeO2的（111）晶面。

图8

备注：样品各晶面的标准晶面间距可以通过Jade软件分析XRD数据的标准谱图来得到（相关教程：XRD从原始数据到图）

Step 6. 晶格条纹的标注，这一步可以在平面设计软件Photoshop，CorelDraw或者PPT中完成，标注方式如图9所示。

图9

备注：这里仅提供小编经常使用的一种方法，并不是唯一方法！希望对大家有所帮助！

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